最適合在生產現(xiàn)場對多種少量的小型鏡片進行快速質量檢查
檢查不同規(guī)格的鏡片時不需要使用專用配套夾具，最適合用于品種多數(shù)量少的鏡片檢查。只需將鏡片放置其上，操作如同使用顯微鏡一樣簡單，可以輕松快速的應對質量檢查。
采用635 nm波長激光，可順利導入加工工序（生產線）
與之前在斐佐型干涉儀上使用的632.8 nm激光波長極為相似，干涉條紋的條紋感應度也與其近似?？身樌麘玫浆F(xiàn)有的檢查加工工序（生產線）中。
品種豐富、種類齊全的參照鏡
參照鏡采用1英寸的緊湊結構，其種類與KIF-202L系列相比較也毫不遜色。
 | 干涉條紋數(shù)值化配套元件KIF-FS10A，是根據(jù)干涉儀檢查系統(tǒng)KIF-10A系列得到的干涉條紋，對像差進行數(shù)值化顯示的系統(tǒng)。 |
合格判斷非常簡單
根據(jù)可以任意設定的規(guī)格值及合格判斷功能，能夠在生產線中輕松進行合格判斷。
處理時間迅速
與采用條紋掃描方式的條紋解析軟件相比，處理時間短，可實時快速地實現(xiàn)干涉條紋的解析。
價格低廉
與條紋掃描型干涉儀系統(tǒng)相比，價格更加低廉。
可進行生產工序內管理
因為可以進行數(shù)值數(shù)據(jù)的保存以及畫面數(shù)據(jù)的打印，所以可以進行生產工序內的優(yōu)良判斷管理。
| KIF10A用干涉條紋數(shù)值化配套元件 | |
| 型號 | KIF-FS10A |
| 相位計算方式 | 干涉條紋的形狀（條紋二值化方式） |
| 再現(xiàn)性 | PV值0.1λ以下* （3σ的值。根據(jù)本公司測定條件） |
| 干涉條紋解析速度 | 約1.0秒（根據(jù)電腦性能） |
| OS | Windows XP |
| 主要功能 | P-V、RMS、Pwr、AS、Coma、Sa3的顯示功能（不能進行±判別） |
| 規(guī)格值設定及合格判斷功能 | |
| 影面設定功能 | |
| 單一測定、連續(xù)測定功能 | |
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